Analysis and Measurement of Reflection Density Fluctuations of Low Spatial Frequency (0.01 to 1 mm_-1)

Abstract

The design and construction of the SAM equipment is described: a system for the analysis and measurement of reflection density fluctuations of small amplitude and low spatial frequency (0.01 to I mm_-1). on sheet materials. SAM works as a dynamic reflection microphotometer. The signal processing allows the real-time acquisition of both the frequency spectrum and Ihe r.m.s. value of the density fluctuations. The resolution of the system is 10_-4 in r.m.s. value of density and its relative precision 10%, for mean density values within the range 0.1 to 1 SAM is currently used for the characterization of black and white or colour photographic papers.

Résumé

On décrit un microphotomètre par réflexion (SAM) qui permet l'analyse et la mesure des fluctuations de densité dans le domaine restreint de fréquence spatiale 0,01 à 1 mm_-1. Le système de traitement du signal permet l’acquisition en temps réel de la valeur r.m.s. des fluctuations de densité ainsi que le leur spectre de fréquences spatiales. La résolution du SAM est 10% en valeur rims, de densité et sa précision relative 10% pour des niveaux moyens de densité compris entre 0,1 et 1. SAM est couramment utilisé pour la caractérisation des papiers photographiques noir-blanc et couleur.

Zusammenfassung

Messprinzip und Aufbau des SAM-Gerätes werden beschrieben. Es handelt sich hierbei um ein System zur Analyse und Messung von Reflexionsdichte-Schwankungen kleiner Amplitude und niedriger Ortsfrequenz (0,01 bis 1 mm_-1) auf Blattmaterialien (fotografische Schichten). SAM arbeitet als dynamisches ReflexionsMikrophotometer. Die Signalverarbeitung ermöglicht die Erstellung sowohl des Frequenzspektrums als auch die des R.M.S-Wertes des Dichteschwankung (Selwynkörnigkeit) im Echtzeitbetrieb. Die Auflösung des Systems beträgt 10_-4 Dichteeinheiten für den R.M.S-Wert und die relative Genauigkeit beträgt 10% für mittlere Dichtewerte im Bereich 0,1 bis 1. Das Gerät wird verwendet zur Charakterisierung der Eigenschaften fotografischer Schwarzweiss- und Colorpapiere.

Riassunto

Descriviamo il disegno e la costruzione dello strumento SAM: un sistema per l’analisi e la misura su fogli di materiale del-le fluttuazioni di densità per riflessione di piccola ampiezza e di bassa frequenza spaziale (da 0,01 a 1 mm_-1). Il SAM lavora come un microfotometro dinamico per riflessione. Il trattamento del segnale permette l’acquisizione in tempo reale sia dello spettro di frequenza che dei valoridir.m.s. delle fluttuazioni di densità. La risoluzione del sistema è 10_-4 in valori r.m.s. di densità e la sua precisione relativa è 10% per valori di densità media nell’intervallo da 0,1 a 10. Il SAM viene correntemente utilizzato per la caratterizzazione delle carte colore e bianco e nero.