Static Pressure Effects on Photographic Materials Part II. Further Evidence for an Alternative Mechanism

Abstract

Indications about new shallow electron traps created during pressure and causing disperse image centres are given both by the analogy between an overdigested and a pressed emulsion and by the stepped form of the response curves of some pressed emulsions.

Support is found for the view that pressure-induced fog is due to the trapping of free electrons generated into the conduction band by mechanical deformation. From luminescence experiments evidence is given that these pressure electrons come from small reduction centres. The expected correlation between light-sensitivity and pressure-induced fog is confirmed.

Résumé

Des informations sur les pièges à électrons peu profonds crées pendant la compression d’une émulsion photographique et provoquant la dispersion des germes d’image latente ont été déduites:

—de l’analogie de réponse des émulsions surmaturées et des émulsions qui ont été comprimées,

—de la forme en escalier des courbes sensitométriques de certaines émulsions comprimées.

Ces observations appuyent la conception selon laquelle le voile produit par la compression est dû au piégeage d’électrons libres injectés dans la bande de conduction. Des mesures de luminescence montrent que ces électrons proviennent de petits germes formés par réduction. La corrélation prévue entre la sensibilité à la lumière et le voile induit par pression a été confirmée.

Zusammenfassung

Aus Analogien zwischen druckbehandelten Emulsionen einerseits und überreiften Emulsionen andererseits sowie aus der abgestuften Form der Schwärzungskurven einiger druckbehandelter Emulsionen wird geschlossen, dass durch Druckbehandlung neue, flache Elecktronenfallen entstehen, die bei Belichtung zu einem dispersen Latentbild führen.

Druckinduzierter Schleier wird auf den Einfang freier Elektronen zurückgeführt, die durch mechanische Deformation im Leitungsband erzeugt werden. Aus Lumineszenzmessungen wird geschlossen, dass die druckinduzierten Leitungselektronen von kleinen Reduktionszentren herrühren. Die erwartete Korrelation zwischen Lichtempfindlichkeit und druckinduziertem Schleier wird bestätigt.

Riassunto

Indicazioni su nuove trappole superficiali di eletroni che si creano per compressione e che determinano centri di immagine dispersi vengono fornite sia dall’analogia fra una emulsione sovramaturata ed una compressa, sia dalla forma a gradino delle curve di resposta di alcune emulsioni compresse.

L’idea che il velo prodotto dalla compressione sia dovuto alla cattura di elettroni liberi generati nella banda di conduzione dalla deformazione meccanica, ne viene rafforzata. Con esperimenti di luminescenza si dimostra che questi elettroni da pressione vengono da piccoli centri da riduzione. Viene confermata la prevista correlazione fra sensibilità alla luce e velo prodotto dalla pressione.