Métrologie de Haute Précision Appliquée à Des Enregistrements Photographiques Réalisés Dans Une Expérience de Diffraction et D'interférences

Abstract

Description d'une unité métrologique de haute précision destinée à l'étude d'enregistrements photographiques de franges d'interférences et de diffraction d'un ensemble homocentrique d'ondes sphériques par un écran à bords rectilignes et parallèles. Une technique de lissage portant sur un grand nombre de pointés permet d'exploiter les données métrologiques de 40 plaques photographiques enregistrées soit en polarisation parallèle, soit en polarisation perpendiculaire, pour des valeurs différentes des paramètres expérimentaux. Les largeurs optiques 2e _opt calculées de l'écran diffringent sont comparées à sa largeur physique 2e mesurée directement sur comparateur optique. Pour ces 40 expériences distinctes, la concordance reste meilleure que 2 2 10 ^{m 4}. Enfin, une plaque, sur laquelle ont été enregistrées les franges d'interférences intérieures, a été assimilée à un réseau, dont on a pu déterminer le pas avec précision par des mesures classiques de dispersion. La comparaison de ce pas avec la valeur moyenne de l'interfrange déterminée précédemment par lissage conduit à une concordance meilleure que les incertitudes expérimentales. Ceci confirme la fiabilité de nos méthodes métrologiques.