References
- Asano , J. , Imai , T. , Okuyama , M. and Hamakawa , Y. 1992 . Jpn. J. Appl. Phys. , 31 : 3098
- Shur , D. , Rosenman , G. , Krasik , Y. E. and Kugel , V. D. 1996 . J. Appl. Phys. , 79 : 3669
- Gundel , H. , Riege , H. , Handerek , J. and Zooutas , K. 1989 . Appl. Phys. Lett. , 54 : 2071
- Kugel , V. D. , Rosenman , G. , Shur , D. and Krasik , Y. E. 1995 . J. Appl. Phys. , 78 : 2248
- Puchkarev , V. F. and Mesyats , G. A. 1995 . J. Appl. Phys. , 78 : 5633
- Okuyama , M. and Kuratani , Y. 1996 . J. Korean Phys. Soc. , 29 : S607
- Averty , D. , Liateni , S. F. and Le Bihan , R. 1995 . Ferroelectrics , 173 : 171
- Kuratani , Y. , Morikawa , M. and Okuyama , M. 1998 . J. Korean Phys. Soc. , 32 : S1629
- Kuratani , Y. , Morikawa , M. and Okuyama , M. 1998 . Jpn. J. Appl. Phys. , 37 : 5421
- Zhang , W. and Huebner , W. 1998 . J. Appl. Phys. , 83 : 6034
- Okuyama , M. , Morikawa , Y. , Kim , B-K. and Zhu , H. J. Korean Phys. Soc. , (submitted)
- Okuyama , M. (private communication)
- Okuyama , M. , Asano , J. and Hamakawa , Y. Technical Report of ElCE (Japan) , EID94–60 93