References
- Park , S. E. and Shrout , T. R. 1997 . IEEE Trans. UFFC , 44 : 1140
- Park , S. E. and Shrout , T. R. 1997 . J. Appl. Phys. , 82 : 1804
- Liu , S. F. , Park , S. E. , Shrout , T. R. and Cross , L. E. 1999 . J. Appl. Phys. , 85 : 2810
- Nomura , S. , Takahashi , T. and Yokomizo , Y. 1969 . J. Phys. Soc. Jpn. , 27 : 262
- Kuwata , J. , Uchino , K. and Noemura , S. 1981 . Ferroelectrics , 37 : 579
- Kuwata , J. , Uchino , K. and Noemura , S. 1982 . Jpn. J. Appl. Phys. , 21 : 1298
- Yin , J. , Jiang , B. and Cao , W. 2000 . IEEE Trans. UFFC , 47 : 285
- Fousek , J. and Janovec , V. 1969 . J. Appl. Phys. , 40 : 135
- Yin , J. and Cao , W. 2000 . J. Appl. Phys. , 87 : 7438
- Erhart , J. and Cao , W. 1999 . J. Appl. Phys. , 86 : 1073
- Erhart , J. and Cao , W. 2000 . J. Mat. Res. , in press