References
- J. H. Tseng, T. B. Wu, Appl. Phys. Letters 1721 (2001).
- J. S. Kim, B. H. Park, T. J. Choi, S. H. Shin, J. C. Lee, M. J. Lee, S. A. Seo, I. K. Yoo, Integr. Ferroelectrics 64, 205 (2004).
- M. H. Wu, J. M. Wu, Appl. Phys. Lett. 86, 022909 (2005).
- L. J. Wu, J. M. Wu, Huang He, H. Y. Bor, Appl. Phys. Lett. 90, 072901 (2007).
- S. Ezhilvalavan, T. Y. Tseng, Mater. Chem. Phys. 65, 227 (2000).
- R. Dat, D. J. Lichtenwalner, O. Auciello, A. I. Kingon, Appl. Phys. Lett. 64, 2673 (1996).
- C. B. Eom, R. B. Van, J. M. Phillips et al., Appl. Phys. Lett. 63, 2570 (1993).
- R. Ramesh, A. Inam, W. K. Chan et al., Appl. Phys. Lett. 59, 3542 (1991).
- F. J. Castano, K. Nielsch, C. A. Ross et al., Appl. Phys. Lett. 85, 2872 (2004).
- WEN Xin-Yi, Y. U. Jun, WANG Yun-Bo, ZHOU Wen-Li, GAO Jun-Xiong, CHU Xiao-Hui, Chin. Phys. Lett. 25, 2694 (2008).
- Chia-Liang Sun, Hong-Wen Wang, Ming-Chu Chang, Meng-Suan Lian, San-Yuan Chen, Materials Chemistry and Physics 78, 507 (2002).
- Lin-Jung Wu, Jenn-Ming Wu, J. Phys. D: Appl. Phys. 40, 4707 (2007).
- Takeshi Morita, Yasuo Cho, Appl. Phys. Lett. 85, 2331 (2004).
- J. Androulakis, Pantelis Migiakis, J. Giapintzakis, Appl. Phys. Lett. 84, 1099 (2004).
- Y. J. Yu, H L W Chan, F. B. Wang, L. C. Zhao, Materials Letters 58, 1888 (2004).
- A. I. Mardare, C. C. Mardare, E. Joanni, J R A Fernandes, P. M. Vilarinho, A. L. Kholkin, Ferroelectrics 293, 177 (2003).
- Yih Rong Luo, Jenn-Ming Wu, Appl. Phys. Lett. 79, 3669 (2001).
- A. Yamamoto, T. Ono, T. Tatsuko, T. Tamura, S. Tajima, Materials Research Bulletin 34, 1935 (1999).
- M. K. Jayaraj, B. Satish, Phys. Express 3.8 (2013).
- B. D. Cullity, S. Stock, Elements of Xray diffraction. 3rd edition. Prentice Hall, 2001.
- H. Fujita, M. Morikawa, Thin solid films 339.1-2, 309 (1999).
- Chin-Chiuan Kuo, Chi-Chang Liu, Shao-Chih He, Jing-Tang Chang, Ju-Liang He, Journal of Nanomaterials 2011 (2011).
- S. S. Lin, J. L. Huang, D. F. Lii, Surfaces and Coatings Technology 190.2-3, 372 (2005).
- Y. Qu, T. A. Gessert, K. Ramanathan et al., Journal of Vacuum Science and Technology A 11.4, 996 (1993).
- K. B. Lee, S. Tirumala, S. B. Desu, Appl. Phys. Lett. 74, 1484 (1999).
- Xin- Yi Wen, Jun Yu, Yun-Bo Wang, Wen-Li Zhou, Jun-Xiong Gao, J. Appl. Phys 108, 114103 (2010).
- J. W. Lee, G. T. Park, C. S. Park, H. E. Kim, Appl. Phys. Lett. 88, 072908 (2006).
- J. W. Lee, C. S. Park, M. Kim, H. E. Kim, J. Am. Ceram.. Soc. 90, 1077 (2007).
- D. Pandey, A. K. Singh, S. Baik, Acta Crystallogr., Sect. A : Found. Crystallogr. 64, 192 (2008).
- Ragini R Ranjan, S. K. Mishra, D. Pandey, J. Appl. Phys. 92, 3266 (2002).
- H. D. Chen, K. R. Udayakumar, C. J. Gaskey, L. E. Cross, Appl. Phys. Lett. 67, 3411 (1995).