References
- Schmidt , R. V. and Kaminow , I. P. 1974 . Appl. Phys. Lett. , 25 : 458
- Brinkmann , R. , Sohler , W. and Suche , H. 1991 . Electronics Lett. , 27 : 415
- Zegenhagen , J. , Materlik , G. and Uelhoff , W. 1990 . J. X-ray Sci. Technol. , 2 : 214
- Zaldo , C. , Prieto , C. , Dexpert , H. and Fessler , P. 1991 . J. Phys. Condens. Mat. , 3 : 4135
- Kovacs , L. , Rebouta , L. , Soares , J. C. , da Silva , MF. , Hage-Ali , M. , Stoquert , J. P. , Siffert , P. , Zaldo , C. , Szaller , Zs. and Polgar , K. 1991 . Mater. Sci. and Engi. , B9 : 508
- Schirmer , O. F. , Thiemann , O. and Wohlecke , M. 1991 . J. Phys. Chem. Solids , 52 : 185
- Donnersberg , H. J. , Tomlinson , S. M. and Catlow , C. R. A. 1991 . J. Phys. Chem. Solids , 52 : 201
- Abrahams , S. C. and Marsh , P. 1986 . Acta Crystallogr. , B42 : 61