References
- M. Yoshikawa, E. Kitagawa, T. Nagase, T. Daibou, M. Nagamine, K. Nishiyama, T. Kishi, and H. Yoda, IEEE Trans. Magn. 44, 2537 (2008).
- H. Ohmori, T. Hatori, and S. Nakayama, J. Appl. Phys. 103, 07A911 (2009).
- T. Kawahara, R. Takenuma, K. Miura, J. Hayakawa, S. Ikeda, Y.M. Lee, R. Sasaki, Y. Goto, K. Ito, T. Meguro, F. Matsukura, H. Takahashi, H. Matsuoka, and H. Ohno, IEEE J. Solid State Circuits 43, 109 (2008).
- S. Ikeda, K. Miura, H. Yamamoto, K. Mizunuma, H.D. Gan, M. Endo, S. Kanai, J. Hayakawa, F. Matsukura, and H. Ohno, Nat. Mater. 9, 721 (2010).
- M. Yamanouchi, R. Koizumi, S. Ikeda, H. Sato, K. Mizunuma, K. Miura, H.D. Gan, F. Matsukura, and H. Ohno, J. Appl. Phys. 109, 07C712 (2011).
- J. Sinha, M. Hayashi, A.J. Kellock, S. Fukumi, M. Yamanouchi, H. Sato, S. Ikeda, S. Mitani, S. Yang, S.S.P. Parkin, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. 102, 242405 (2013).
- H.X. Yang, M. Chshiev, B. Dieny, J.H. Lee, A. Manchon, and K.H. Shin, Phys. Rev. B 84, 054401 (2001).
- K. Schwarz, P. Mohn, P. Blaha, and J. Kübler, J. Phys. F 14, 2659 (1984).
- J.P. Denhigh and R.B. Marcus, J. Appl. Phys. 37, 4326 (1966).
- Material Studio ver. 6.1 (Accelrys, San Diego, CA, 2013).
- D.D, Koelling and B.N. Harmon, J. Phys. C 10, 3107 (1977).
- H. Katagiri, K. Kato, T. Miyazaki, Y. Morikawa, H. Sawada, T. Uchiyama, T. Uda, T. Yamasaki, N. Hamada, A. Yanase, T. Yamamoto, H. Tsukioka, M. Okamoto, H. Mizouchi, K. Betsuyaku, and K. Mae, PHASE ver 11.00 (Institute of Industrial Science, University of Tokyo, Tokyo, 2013).