References
- Ahn , K. Y. , Stengl , R. , Tan , T. Y. and Gösele , U. 1992 . J. Appl. Phys. , 72 : 561
- Balluffi , R. W. , Komen , Y. and Schober , T. 1972 . Surf. Sci. , 31 : 68
- Benamara , M. , Rocher , A. , Laporte , A. , Sarrabayrouse , G. , Lescouzeres , L. , Peyre-Lavigne , A. , Fnaiech , M. and Claverie , A. 1995 . Mat. Res. Symp. Proc. , 378 : 863
- Bengtossen , S. and Engström , O. J. 1989 . J. Appl. Phys. , 66 : 1231
- Carter , C. B. , Föll , H. , Ast , D. G. and Sass , S. L. 1981 . Phil. Mag. A , 43 : 441
- Chabal , Y. J. , Feijóo , D. , Christman , S. B. and Googwin , C. A. 1995 . Proceedings of the Third International Symposium on Semiconductor Wafer Bonding: Physics and Applications , 305 Pennington, New Jersey : Electrochemical Society .
- Chaudhari , P. and Charpnau , H. 1972 . Surf. Sci. , 31 : 104
- Chaudhari , P. and Matthews , J. W. 1970 . Appl. Phys. Lett. , 17 : 115
- Edington , J. W. 1976 . Practical Electron Microscopy in Materials Science , 190 Eindhoven : N. V. Philips .
- Ejeckam , F. E. , Lo , Y. H. , Subramanian , S. , Hou , H. Q. and Hammons , B. E. 1997 . Appl. Phys. Lett. , 70 : 1685
- Föll , H. and Ast , D. G. 1979 . Phil. Mag. A , 40 : 589
- Gao , Y. , Dregia , S. A. and Shewmon , P. G. 1989 . Acta Metall. , 37 : 1627
- Keblinski , P. , Phillpot , S. R. and Wolf , D. 1996 . Phys. Rev. Lett. , 77 : 2965
- Kopperschmidt , P. , Senz , St. , Scholz , R. and Gösele , U. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 74 : 374
- Lo , Y. H. 1991 . Appl. Phys. Lett. , 59 : 2311
- Perreault , G. C. , Hyland , S. L. and Ast , D. G. 1991 . Phil. Mag. A , 64 : 587
- Read , W. T. 1953 . Dislocations in Crystals , New York : McGraw-Hill .
- Schober , T. and Balluffi , R. W. 1971 . Phil. Mag. , 24 : 165
- Tong , Q. Y. and Gösele , U. 1999 . Semiconductor Wafer Bonding: Science and Technology , New York : Wiley .
- Zhu , Z.-H. , Ejeckam , F. E. , Qian , Y. , Zhang , J. , Zhang , Z. , Christenson , G. L. and Lo , Y. H. 1997 . IEEE J Selected Top. quantum Electron. , 3 : 927