References
- Barry , J. C. , Bursill , L. A. and Hutchison , J. L. 1985 . Phil. Mag. A , 51 : 15 – 49 .
- Boufils , J. F. , Irvine , S. J. C. and Mullin , J. B. 1981 . J. Cryst. Growth , 55
- Colaitis , D. , Van Dyck , D. and Amelinckx , S. 1981 . Phys. Stat. Sol. (a) , 68 : 419 – 38 .
- Cullis , A. G. , Chew , N. G. and Hutchison , J. L. 1985 . Ultramicroscopy , 17 : 3
- Fan , G. and Williams , J. O. 1986 . to be published
- Fan , G. , Davies , J. I. , Maung , N. , Parrott , M. J. and Williams , J. O. 1986 . J. electron. Mater. , submitted
- Holt , D. B. 1984 . J. Mater. Sci. , 19 : 439 – 46 .
- Neave , J. H. , Larson , P. K. , Joyce , B. A. , Gowers , J. P. and Van Der Veen , J. F. 1983 . J. vac. Sci. Technol. B , 1 ( 3 )
- O'keefe , M. A. 1985 . Electron Optic Systems , Edited by: O'Hare , A. M. F. 209 – 20 . Chicago : SEM .
- Mullin , J. B. , Irvine , S. J. C. , Moss , R. H. , Robson , P. N. and Wright , D. R. 1984 . J. Cryst. Growth , 68
- Ponce , F. A. , Yamashita , T. , Bube , R. H. and Sinclair , R. 1981 . Defects in Semiconductor , Edited by: Narayan and Tan. Amsterdam : North-Holland .
- Shiojiri , M. , Kaito , C. , Sekimoto , S. and Nakamura , N. 1982 . Phil. Mag. A , 46 : 495 – 505 .
- Williams , J. O. , Ng , T. L. , Wright , A. C. , Cockayne , B. and Wright , P. J. 1984 . J. Cryst. Growth , 68 : 237 – 44 . 1985, Ibid., 72, 155–61.