References
- Bean , J. C. 1985 . Science, N.Y. , 230 : 127
- Bean , J. C. , Feldman , L. C. , Fiory , A. T. , Nakahara , S. and Robinson , I. J. 1984 . J. vac. Sci. Technol. A , 2 : 436
- Carpenter , R. W. and Spence , J. C. H. 1984 . J. Microsc. , 136 : 165
- Christenson , K. K. and Eades , J. A. 1986 . Ultramicroscopy , 19 : 191
- Fraser , H. L. , Maher , D. M. , Humphreys , C. J. , Hetherington , C. J. D. , Knoell , R. V. and Bean , J. C. 1985 . “ Institute of Physics Conference Series No. 76 ” . In Microscopy of Semicondutor Materials 1985 , 307 Bristol : Adam Hilger .
- Gibson , J. M. , Hull , R. , Bean , J. C. and Treacy , M. M. J. 1985 . Appl. Phys. Lett. , 46 : 649
- Goodman , P. 1975 . Acta crystallogr. A , 31 : 804
- Hashimoto , H. 1954 . J. phys. Soc. Japan , 9 : 150
- Hirsch , P. B. , Howie , A. , Nicholson , R. B. , Pashley , D. W. and Whelan , M. J. 1965 . Electron Microscopy of Thin Crystals , London : Butterworths .
- Jones , P. B. , Rackham , G. M. and Steeds , J. W. 1977 . Proc. R. Soc. A , 354 : 102
- Maher , D. M. , Fraser , H. L. , Humphreys , C. J. , Knoell , R. V. and Bean , J. C. 1987 . Appl. Phys. Lett. , 50 : 574
- Maher , D. M. , Fraser , H. L. , Humphreys , C. J. , Knoell , R. V. , Field , R. D. , Woodhouse , J. B. and Bean , J. C. 1985 . “ Institute of Physics Conference Series No. 78 ” . In Electron Microscopy and Analysis 1985 , 49 Bristol : Adam Hilger .
- Riecke , W. D. 1972 . “ Institute of Physics Conference Series No. 14 ” . In Proceedings of the 5th European Congress on Electron Microscopy 1972 , 98 London : Institute of Physics .
- Tanaka , M. , Saito , R. , Ueno , K. and Harada , Y. 1980 . J. Electron Microsc. , 29 : 408
- Treacy , M. M. J. , Gibson , J. M. and Howie , A. 1985 . Phil. Mag. A , 51 : 389