References
- Arthur , J. R. 1974 . Surf. Sci. , 43 : 449
- Bravman , J. C. and Sinclair , R. J. 1984 . J. Electron Microsc. Technique , 1 : 53
- Cockayne , B. , Wright , P. J. , Blackmore , G. W. , Williams , J. O. and Ng , T. L. 1984 . J. Mater. Sci. , 19 : 3726
- Cullis , A. G. , Chew , N. G. and Hutchison , J. L. 1985 . Ultramicroscopy , 17 : 203
- Dean , P. J. , Herbert , D. C. , Werkhoven , C. J. , Fitzpatrick , B. J. and Bhargava , R. N. 1981 . Phys. Rev. B , 23 : 4888
- Eykholt , R. and Srolovitz , D. J. 1986 . J. appl. Phys. , 60 : 1793
- Iwano , H. , Tsunekawa , Y. , Shimada , M. , Takamura , T. , Seki , T. and Ohshima , H. 1987 . Appl. Phys. Lett. , 51 : 877
- Lu , X. Z. , Rao , R. , Willman , B. , Lee , S. , Dukas , S. G. and Alfano , R. R. 1987 . Phys. Rev. B , 36 : 1140
- Kadhim , N. J. and Mukherjee , D. 1988 . Vacuum , 38 : 11
- Kleiman , J. , Park , R. M. , Mar , H. A. and Rajan , K. 1988 . Dislocations and Interfaces in Semiconductors , Edited by: Rajan , K. , Narayan , J. and Ast , D. 129 Warrendale, Pennsylvania : The Metallurgical Society .
- Kleiman , J. , Park , R. M. and Qadri , S. B. 1987 . J. appl. Phys. , 61 : 2067
- Mar , H. A. and Park , R. M. 1986 . J. appl. Phys. , 60 : 1229
- Miller , R. C. , Tsang , W. T. and Munteanu , O. 1982 . Appl. Phys. Lett. , 41 : 374
- Park , R. M. , Kleiman , J. and Mar , H. A. 1987 . Proc. SPIE , 796 : 86
- Park , R. M. , Mar , H. A. and Salansky , N. M. 1985a . Appl. Phys. Lett. , 46 : 386 1985b, J. vac. Sci. Technol, 83, 676.
- Petruzzello , J. , Olego , D. J. , Chu , X. and Faurie , J. P. 1988 . J. appl. Phys. , 63 : 1783
- Ponce , F. A. , Stutius , W. and Werthen , J. G. 1983 . Thin Solid Films , 104 : 133
- Sant , S. B. , Kleiman , J. , Melech , M. , Park , R. M. , Weatherly , G. C. , Smith , R. W. , Rajan , K. and Augustus , P. O. 1987 . Institute of Physics Conference Series No. 87 129 Section 2
- Tu , D.-W. and Kahn , A. 1985 . J. vac. Sci. Technol. A , 3 : 922
- Williams , J. O. , Wright , A. C. and Yao , T. 1986 . Phil. Mag. A. , : 553