References
- Biegelsen , D. K. , Ponce , F. A. , Krusor , B. S. , Tramontana , J. C. and Yingling , R. D. 1988 . Appl. Phys. Lett. , 52 : 1779
- Biegelsen , D. K. , Smith , D. J. and Tramontana , J. C. 1987 . J. appl. Phys. , 61 : 1856
- Biegelsen , D. K. , Swartz , L.-E. and Bringans , R. D. 1990 . J. vac. Sci. Technol. A , 8 : 280
- Bourret , A. , Rouviere , J. L. and Spendeler , J. 1988 . Phys. Stat. sol. (a) , 107 : 481
- Bravman , J. C. and Sinclair , R. 1984 . J. Electron. Microsc. Tech. , 1 : 53
- Gerthsen , D. , Biegelsen , D. K. , Ponce , F. A. and Tramontana , J. C. 1990 . J. Cryst. Growth , 106 : 157
- Hull , R. , Rosner , S. J. , Koch , S. M. and Harris , J. S. Jr . 1986 . Appl. Phys. Lett. , 49 : 1715
- Lilienthal-Weber , Z. , Weber , E. R. , Parechanian-Allen , L. and Washburn , J. 1988 . Ultramicroscopy , 26 : 59
- Lo , Y. H. , Wu , M. C. , Lee , H. , Wang , S. and Liliental-Weber , Z. 1988 . Appl. Phys. Lett. , 52 : 1386
- Matthews , J. W. 1977 . Dislocations in Solids Edited by: Nabarro , F. R. N. Vol. 2 , 462 chapter 7
- Morkoc , H. , Peng , C. K. , Henderson , T. , Kopp , W. , Fischer , R. , Ericsson , L. P. , Longerbone , M. D. and Youngman , R. C. 1985 . I.E.E.E. Electron Devices Lett. , 6 : 381
- Otsuka , N. , Choi , C. , Nakamuraa , Y. , Nagakura , S. , Fischer , R. , Peng , C. K. and Morkoc , H. 1986 . Mater. Res. Symp. Proceedings , 67 : 85
- Ourmazd , A. , Baumann , F. H. , Bode , M. and Kim , Y. 1990 . Ultramicroscopy , 34 : 237
- Spycher , R. , Stadelmann , P. A. and Buffat , P. A. 1990 . Mater. Res. Soc. Symp. Proc. , 198 : 135
- Stadelmann , P. A. 1987 . Ultramicroscopy , 21 : 131
- Takasugi , H. , Kawabe , M. and Bando , Y. 1987 . Japan J. appl. Phys. , 26 : L584
- Tsai , H. L. and Lee , J. W. 1987 . Appl. Phys. Lett. , 51 : 130
- Tsai , H. L. and Matyi , R. J. 1989 . Appl. Phys. Lett. , 55 : 265