References
- Beanland , R. 1993 . J. Cryst. Growth , 130 : 394
- Brown , J. M. , Holonyak , N. Jr. , Kaliski , R. W. , Ludowise , M. J. , Dietze , W. T. and Lewis , C. R. 1984 . Appl. Phys. Lett. , 44 : 1158
- Cherns , D. and Preston , A. R. 1989 . J. Electron Microsc. Tech. , 13 : 111
- Cherns , D. , Touaitia , R. , Preston , A. R. , Rossow , C. J. and Houghton , D. C. 1991 . Phil. Mag. A , 64 : 597
- Duan , X. F. 1992 . Appl. Phys. Lett. , 61 : 324
- Fatemi , M. and Stahlbush , R. E. 1991 . Appl. Phys. Lett. , 58 : 825
- Fung , K. K. 1984 . Ultramicroscopy , 12 : 243
- Gibson , J. M. , Hull , R. , Bean , J. C. and Treacy , M. M. J. 1985 . Appl. Phys. Lett. , 46 : 649
- Gibson , J. M. and Treacy , M. M. J. 1984 . Ultramicroscopy , 14 : 345
- Hull , R. , Gibson , J. M. and Bean , J. C. 1985 . Appl. Phys. Lett. , 46 : 179
- Hirsch , P. B. , Howie , A. , Nicholson , R. B. , Pashley , D. W. and Whelan , M. J. 1977 . Electron Microscopy of Thin Crystals , New York : Krieger .
- Hornstra , J. and Bartels , J. W. 1978 . J. Cryst. Growth , 44 : 513
- Humphreys , C. J. , Maher , D. M. , Fraser , H. L. and Eaglesham , D. J. 1988 . Phil. Mag. A , 58 : 787
- Perovic , D. D. and Weatherly , G. C. 1991 . Phil. Mag. A , 64 : 1
- Spence , J. and Zuo , J. M. 1992 . Electron Diffraction , New York : Plenum .
- Steeds , J. W. 1979 . Introduction to Analytical Electron Microscopy , Edited by: Hren , J. , Goldstein , J. and Joy , D. New York, London : Plenum .
- Tanaka , M. , Saito , R. , Ueno , K. and Harada , Y. 1980 . J. Electron Microsc. , 29 : 408
- Tanaka , M. , Terauchi , M. and Kaneyama , T. 1991 . J. Electron Microsc. , 40 : 211
- Timoshenko , S. P. and Goodier , J. N. 1970 . Theory of Elasticity , third edition 53 – 60 . New York : McGraw-Hill .
- Treacy , M. M. J. , Gibson , J. M. and Howie , A. 1985 . Phil. Mag. A , 51 : 389
- Treacy , M. M. J. and Gibson , J. M. 1986 . J. Vac. Sci. Technol. B , 4 : 1458
- Vincent , R. 1989 . J. Electron Microsc. Technique , 13 : 40