References
- Shacham, A.; Bergman, K.; Carloni, L.P. IEEE Trans. Comput. 2008, 57, 1246–1260.10.1109/TC.2008.78
- Cocorullo, G.; Rendina, I. Electron. Lett. 1992, 28, 83–85.10.1049/el:19920051
- Coppola, G.; Sirleto, L.; Rendina, I.; Iodice, M. Opt. Eng. 2011, 50, 071112.10.1117/1.3574378
- Dickson, R.M.; Lyon, L.A. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 6095–6098.10.1021/jp001435b
- Lamprecht, B.; Krenn, J.R.; Schider, G.; Ditlbacher, H.; Salerno, M.; Felidj, N.; Leitner, A.; Aussenegg, F.R.; Weeber, J.C. Appl. Phys. Lett. 2010, 79, 51–53.
- Ikeda, K.; Miyazaki, H.T.; Kasaya, T.; Yamamoto, K.; Inoue, Y.; Fujimura, K.; Kanakugi, T.; Okada, M.; Hatade, K.; Kitagawa, S. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 021117.10.1063/1.2834903
- Bozhevolnyi, S.I.; Volkov, V.S.; Devaux, E.; Laluet, J.Y.; Ebbesen, T.W. Nature 2006, 440, 508–511.10.1038/nature04594
- Oulton, R.F.; Sorger, V.J.; Genov, D.A.; Pile, D.F.P.; Zhang, X. Nat. Photon. 2008, 2, 496–500.10.1038/nphoton.2008.131
- Welford, K. Opt. Quant. Electron. 1991, 23, 1–27.10.1007/BF00619516
- Raether, H. Surface Plasmons; Springer: Berlin, 1988.
- Ebbesen, T.W.; Lezec, H.J.; Ghaemi, H.F.; Thio, T.; Wolff, P.A. Nature 1998, 391, 667–669.10.1038/35570
- Barnes, W.L.; Dereux, A.; Ebbesen, T.W. Nature 2003, 424, 824–830.10.1038/nature01937
- Reinhardt, C.; Passinger, S.; Chichkov, B.N. Opt. Lett. 2006, 31, 1307–1309.10.1364/OL.31.001307
- Steinberger, B.; Hohenau, A.; Ditlbacher, H.; Stepanov, A.L.; Drezet, A.; Aussenegg, F.R.; Leitner, A.; Krenn, J.R. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 094104.10.1063/1.2180448
- Steinberger, B.; Hohenau, A.; Ditlbacher, H.; Aussenegg, F.R.; Leitner, A.; Krenn, J.R. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 081111.10.1063/1.2772774
- Krasavina, A.V.; Zayats, A.V. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 211101.10.1063/1.2740485
- Chen, L.; Jagat, S.; Lipson, M. Opt. Lett. 2006, 31, 2133–2135.10.1364/OL.31.002133
- Tsilipakos, O.; Pitilakis, A.; Yioultsis, T.V.; Papaioannou, S.; Vyrsokinos, K.; Kalavrouziotis, D.; Giannoulis, G.; Apostolopoulos, D.; Avramopoulos, H.; Tekin, T.; Baus, M.; Karl, M.; Hassan, K.; Weeber, J.C.; Markey, L.; Dereux, A.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.I.; Pleros, N.; Kriezis, E.E. IEEE J. Quant. Electron. 2012, 48, 678–687.10.1109/JQE.2012.2189757
- Holmgaard, T.; Chen, Z.; Bozhevolnyi, S.I.; Markey, L.; Dereux, A.; Krasavin, A.V.; Zayats, A.V. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 051111.10.1063/1.3078235
- Holmgaard, T.; Chen, Z.; Bozhevolnyi, S.I.; Markey, L.; Dereux, A.; Krasavin, A.V.; Zayats, A.V. Opt. Exp. 2008, 16, 13585–13592.10.1364/OE.16.013585
- Steinberger, B.; Hohenau, A.; Ditlbacher, H.; Aussenegg, F.R.; Leitner, A.; Krenn, J.R. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 081111.10.1063/1.2772774
- Hassan, K.; Weeber, J.C.; Markey, L.; Dereux, A. J. Appl. Phys. 2011, 110, 023106.10.1063/1.3609081
- Krasavin, A.V.; Zayats, A.V. Appl. Phys. Lett. 2010, 97, 041107.10.1063/1.3464552
- Hassan, K.; Weeber, J.C.; Markey, L.; Dereux, A.; Pitilakis, A.; Tsilipakos, O.; Kriezis, E.E. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 241110.10.1063/1.3670500
- Holmgaard, H.; Bozhevolnyi, S.I. Phys. Rev. B 2007, 75, 245405.10.1103/PhysRevB.75.245405
- Grandidier, J.; Massenot, S.; Colas des Francs, G.; Bouhelier, A.; Weeber, J.C.; Markey, L.; Dereux, A.; Renger, J.; González, M.U.; Quidant, R. Phys. Rev. B 2008, 78, 245419.10.1103/PhysRevB.78.245419
- Holmgaard, T.; Gosciniak, J.; Bozhevolnyi, S.I. Opt. Exp. 2010, 18, 23009–23015.10.1364/OE.18.023009
- Gosciniak, J.; Holmgaard, T.; Bozhevolnyi, S.I. J. Lightw. Technol. 2011, 29, 1473–1481.10.1109/JLT.2011.2134071
- Nikolajsen, T.; Leosson, K.; Bozhevolnyi, S.I. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 5833–5835.10.1063/1.1835997
- Alexandros, P.; Kriezis, E.E. J. Lightw. Technol. 2011, 29, 2636–2646.
- Kalavrouziotis, D.; Papaioannou, S.; Vyrsokinos, K.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.I.; Hassan, K.; Markey, L.; Weeber, J.C.; Dereux, A.; Giannoulis, G.; Apostolopoulos, D.; Avramopoulos, H.; Pleros, N. IEEE Photon. Technol. Lett. 2012, 24, 1036–1038.10.1109/LPT.2012.2191147
- Gosciniak, J.; Bozhevolnyi, S.I. Sci. Rep. 2013, 3, 1803.
- Palik, E.D. Handbook of Optical Constants of Solids; Academic: New York, NY, 1985.
- Tsilipakos, O.; Yioultsis, T.V.; Kriezis, E.E. J. Appl. Phys. 2009, 106, 093109.10.1063/1.3256139
- Grandidier, J.; Colas des Francs, G.; Markey, L.; Bouhelier, A.; Massenot, S.; Weeber, J.C.; Dereux, A. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 063105.10.1063/1.3300839
- Berini, P. Opt. Exp. 2006, 14, 13030–13042.10.1364/OE.14.013030
- Buckley, R.; Berini, P. Opt. Exp. 2007, 15, 12174–12182.10.1364/OE.15.012174
- Papaioannou, S.; Kalavrouziotis, D.; Vyrsokinos, K.; Weeber, J.C.; Hassan, K.; Markey, L.; Dereux, A.; Kumar, A.; Bozhevolnyi, S.I.; Baus, M.; Tekin, T.; Apostolopoulos, D.; Avramopoulos, H.; Pleros, N. Sci. Rep. 2012, 2, 652.
- Gosciniak, J.; Markey, L.; Dereux, A.; Bozhevolnyi, S.I. Opt. Exp. 2012, 20, 16300–16309.10.1364/OE.20.016300