References
- Ducharme , S. , Scott , J. C. and Twieg , R. J. 1991 . Phys. Rev. Lett. , 66 : 1846
- Moerner , W. E. and Silence , S. M. 1994 . Chem. Rev. , 94 : 127
- Moerner , W. E. , Jepsen , A. G. and Thompson , C. L. 1997 . Ann. Rev. Mater. Sci. , 27 : 585
- Twarowski , A. 1989 . J. Appl. Phys. , 65 : 2833
- Schildkraut , J. S. and Buettner , A. V. 1992 . J. Appl. Phys. , 72 : 1888
- Schildkraut , J. S. and Cui , Y. 1992 . J. Appl. Phys. , 72 : 5055
- Yuan , B. , Sun , X. , Hou , C. , Li , Y. , Zhou , Z. , Jiang , Y. and Li , C. 2000 . J. Appl. Phys. , 88 : 5562
- Donckers , M. C. J. M. , Silence , S. M. and Walsh , C. A. 1993 . Opt. Lett. , 18 : 1044
- Cui , Y. , Swedek , B. and Cheng , N. 1999 . J. Appl. Phys. , 85 : 38
- Kukhtarev , N. V. , Markov , V. B. , Odulov , S. G. , Soskin , M. S. and Vinetski , V. L. 1979 . Ferroelectrics , 22 : 949 961