References
- Amelinckx , S. 1984 . Proceedings of the on advanced study institute on improved methods for examining the submicron world , Edited by: Feder , R. , McGowan , Wm. J. and Shinozaki , D. M. vol. 137 , 71 New York : Plenum .
- Barry , J. C. 1988 . J. Electron Microsc. Technol. , 8 : 325
- Daeumling , M. , Seuntjens , J. and Larbalestier , D. C. 1988 . Appl. Phys. Lett. , 52 : 590
- Deutscher , G. and Müller , A. K. 1987 . Phys. Rev. Lett. , 59 : 1745
- Dolan , G. J. , Chandrashekhar , G. V. , Dinger , T. R. , Field , C. and Holtzberg , F. 1989 . Phys. Rev. Lett. , 62 : 827
- Kes , P. H. 1988 . Physica , C153–155 : 1121
- Matsushita , T. , Funaki , K. , Takeo , M. and Yamafuji , K. 1987 . Japan. J. appl. Phys. , 26 : L1524
- Saxton , W. O. , Bitt , T. J. and Horner , M. 1979 . Ultramicroscopy , 4 : 343
- van Tendeloo , G. and Amelinckx , S. 1988 . J. Electron. Microsc. Technol. , 8 : 247
- Vinnikov , Ya. L. , Gurevich , L. A. , Emel'chenko , G. A. and Osip'yan , Yu. A. 1988 . Pis'ma Zh. éksp. teor. Fiz. , 47 : 109 (JETP Lett., 47, 131.)
- Ywen , Xu , Suenaga , M. , Taft⊘ , J. , Sabatini , R. L. , Moodenbaugh , A. R. and Zolliker , P. 1989 . Phys. Rev. , B (to be published)
- Zhu Suenaga , Y. M. , Youwen , Xu , Sabatini , R. L. and Moodenbaugh , A. R. 1989 . Appl. Phys. Lett. , 54 : 23