References
- Noyan , I. C. and Cohen , J. B. 1987 . Residual Stress—Measurement by Diffraction and Interpretation , Berlin : Springer .
- Skrzypek , S. J. , Baczmanski , A. , Ratuszek , W. and Kusior , E. 2001 . J. Appl. Cryst. , 34 : 427
- Van Acker , K. , De Bayser , L. , Celis , J. P. and Van Houtte , P. 1994 . J. Appl. Cryst. , 27 : 56
- Baczmanski , A. , Wierzbanowski , K. , Haije , W. G. , Helmholdt , R. B. , Ekambaranathan , G. and Pathiraj , B. 1993 . Cryst. Res. Technol. , 28 : 229
- Baczmanski , A. , Wierzbanowski , K. , Lipinski , P. , Helmholdt , R. B. , Ekambaranathan , G. and Pathiraj , B. 1994 . Phil. Mag. A , 69 : 437