References
- Sato , S. , Shinozaki , S. and Cicotte , L. J. 1969 . J. Vac. Sci. Technol. , 6 : 62
- Sato , S. and Shinozaki , S. 1970 . J. Appl. Phys. , 41 : 3165
- Stowell , M. J. 1966 . The Use of Thin Films in Physical Investigations , Edited by: Anderson , J. C. New York : Academic Press .
- Jacobs , M. H. , Pashley , D. W. and Stowell , M. J. 1966 . Philos. Mag. , 13 : 129
- Yacaman , M. J. and Ocana , T. 1977 . Appl. Phys. Lett. , 30 : 359 Phys. Status Solidi. 42, 571, 1977
- Cockayne , D. J. H. , Day , I. L. F. and Whelan , M. J. 1969 . Philos. Mag. , 20 : 1265
- Kambe , K. , Lehmpfuhl , G. and Congr , E. M. 1974 . Vol. I , 348 Canberra Optik; 42, 187, 1975
- Cowley , J. 1975 . Diffraction Physics , New York : Elsevier .
- Heinemann , K. , Yacaman , M. J. and Poppa , H. 1979 . Phys. Status Solidi , 54 : 675
- Radi , G. 1970 . Ada Crystallogr. Sect. A , 26 : 41
- Steeds , J. 1970 . Phys. Status Solidi. , 38 : 203
- Doyle , P. A. and Turner , P. S. 1968 . Acra Crystallogr. Sect. A. , 24 : 390
- Cockayne , D. and Anstis , G. R. Proc. 9th Int. Congr. Electron Microscopy . Toronto. Vol. 1 , pp. 182
- Heineraann , K. and Poppa , H. 1972 . Proc. 30th EMSA Meet. 1972 , Claitor's. pp. 612 614
- Yang , C. , Heinemann , K. , Yacamán , M. J. and Poppa , H. 1979 . Thin Solid Films. , 58 : 163
- Heinemann , K. , Yacaman , M. J. , Yang , C. Y. and Poppa , H. 1979 . J. Cryst. Growth. , 47 : 177
- Yacaman , M. J. , Heinemann , K. , Yang , C. Y. and Poppa , H. 1979 . J. Cryst. Growth. , 47 : 187
- Edington , J. W. 1967 . Practical Electron Microscopy in Materials Science , New York : Van Nostrand Reinhold .
- Soria , F. and Sacedon , J. L. private communication
- Heinemann , K. 1971 . Optik , 34 : 113