The resistance degradation of (Ba_0.5Sr_0.5)TiO₃ thin films

References

• Auciello , O. , Scott , J. F. and Ramesh , R. 1998 . Physics Today , 51 : 22
   Web of Science ®Google Scholar
• Kingon , A. I. , Streiffer , S. K. , Basceri , C. and Summerfelt , S. R. 1996 . MRS Bulletin , 21 ( No. 7 ) : 46
   Web of Science ®Google Scholar
• Zafar , S. , Jones , R. E. , Jiang , B. , White , B. , Kaushik , V. and Gillespie , S. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 73 : 3533
   Web of Science ®Google Scholar
• Warren , W. L. , Dimos , D. and Waser , R. M. 1996 . MRS Bulletin , 21 ( No. 7 ) : 40
   Web of Science ®Google Scholar
• Jonscher , A. K. 1983 . Dielectric Relaxation in Solids , London : Chelsea Dielectrics Press .
   Google Scholar
• Baniecki , J. D. , Laibowitz , R. B. , Shaw , T. M. , Duncombe , P. R. , Neumayer , D. A. , Kotecki , D. E. , Shen , H. and Ma , Q. Y. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 72 : 498
   Web of Science ®Google Scholar
• Zafar , S. , Jones , R. E. , Chu , P. , White , B. , Jiang , B. , Taylor , D. , Zurcher , P. and Gillepsie , S. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 72 : 2820
   Web of Science ®Google Scholar
• Shin , J. C. , Park , J. , Hwang , C. S. and Kim , H. J. 1999 . J. Appl. Phys. , 86 : 506
   Web of Science ®Google Scholar
• Dietz , G. W. , Schumacher , M. , Waser , R. , Streiffer , S. K. , Basceri , C. and Kingon , A. I. 1999 . J. Appl. Phys. , 82 : 2359
   Google Scholar
• Lee , J. H. , Mohammedali , R. , Han , J. H. , Balu , V. , Gopalan , S. , Wong , C. H. and Lee , J. C. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 75 : 1455
   Google Scholar
• Maruno , S. , Kuroiwa , T. , Mikami , N. , Sato , K. , Ohmura , S. , Kaida , M. , Yasue , T. and Koshikawa , T. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 73 : 954
   Web of Science ®Google Scholar
• Warren , W. L. , Vanheusden , K. , Dimos , D. , Pike , G. E. and Tuttle , B. A. 1996 . J. Am. Ceram. Soc. , 79 : 536
   Web of Science ®Google Scholar
• Zafar , S. , Jones , R. E. , Jiang , B. , White , B. , Chu , P. , Taylor , D. and Gillepsie , S. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 73 : 175
   Web of Science ®Google Scholar
• Chen , I. C. , Holland , S. E. , Young , K. K. , Chang , C. and Hu , C. 1985 . Appl. Phys. Lett. , 49 : 669
   Google Scholar
• Kimura , M. and Koyama , H. 1999 . J. Appl. Phys. , 85 : 7671
   Google Scholar
• Sakashita , Y. and Segawa , H. 1993 . J. Appl. Phys , 73 : 7857
   Web of Science ®Google Scholar
• Lee , J. J. , Thio , C. L. and Desu , S. B. 1993 . J. Appl. Phys. , 78 : 5073
   Google Scholar
• Cillessen , J. F. M. , Prins , M. W. J. and Wolf , R. M. 1997 . J. Appl. Phys. , 81 : 2777
   Web of Science ®Google Scholar
• Yan , F. , Bao , P. , Zhang , Z. G. , Zhu , J. S. , Wang , Y. N. , Chan , H. L. W. and Choy , C. L. Thin Solid Films , to be published
   Google Scholar