REFERENCES
- Paruch , P. , Tybell , T. and Triscone , J.-M. 2001 . Appl. Phys. Lett. , 79 : 530
- Jang , D. , Heo , J. , Yi , I. and Chung , I. 2002 . Jpn. J. Appl. Phys. , 41 : 6739
- Guthner , P. and Dransfeld , K. 1992 . Appl. Phys. Lett. , 61 : 1137
- Son , J. Y. , Bang , S. H. and Cho , J. H. 2003 . Appl. Phys. Lett. , 82 : 3505
- Chen , X. Q. , Yamada , H. , Horiuchi , T. , Matsushige , K. , Watanabe , S. , Kawai , M. and Weiss , P. S. 1999 . J. Vac. Sci. Technol. B , 17 : 1930
- Kim , Y. , Kim , J. , Bühlmann , S. , Hong , S. , Nam , Y.-W. , Kim , S.-H. and No , K. nonpublished
- Kim , Y. , Hong , S. , Kim , S. H. and No , K. 2006 . J. Electroceramics , (in-press)
- Shin , H. , Eugene Pak , Y. , Hong , S. and No , Kwangsoo . 1999 . SPIE , 3675 : 0277