References
- Scott , J. F. and Araujo , C. A. 1989 . Science , 246 : 1400
- Womack , R. and Tolsch , D. 1989 . ISSCC Dig. of Tech. papers , : 242
- Onishi , S. 1994 . IEDM Technical Digest , : 843
- Tanabe , N. 1995 . Symp. VLSI Technology Technical Digest , : 123
- Nakamura , T. , Nakao , Y. , Kamisawa , A. and Takasu , H. 1994 . Jpn. J. Appl. Phys. , 33 : 5207
- Nakamura , T. , Nakao , Y. , Kamisawa , A. and Takasu , H. 1995 . Jpn. J. Appl. Phys. , 34 : 5184
- Atsuki , T. , Soyama , N. , Sasaki , G. , Yonezawa , T. , Ogi , K. , Sameshima , K. , Hoshiba , K. , Nakao , Y. and Kamisawa , A. 1994 . Jpn. J. Appl. Phys. , 33 : 5196
- Lee , J. , Esayan , S. , Safari , A. and Ramesh , R. 1995 . Integrated Ferroelectrics , 6 : 289