Microstructure evolution and leakage phenomena of CSD PLZT thin films

References

• Atsuki , T. , Soyama , N. , Sasaki , G. , Yonezawa , T. , Ogi , K. , Sameshima , K. , Hoshiba , K. , Nakao , Y. and Kamisawa , A. 1994 . Jpn. J. Appl. Phys. , 33 : 5196 – 5200 .
   Web of Science ®Google Scholar
• Voigt , J. A. , Tuttle , B. A. , Headley , T. J. and Lamppa , D. L. 1995 . Ferroelectric Thin Films IV , : 395 – 402 .
   Google Scholar
• Brooks , K. G. , Klissurska , R. D. , Moeckli , P. and Setter , N. 1997 . J. Mater. Res. , 12 : 531 – 40 .
   Web of Science ®Google Scholar
• Lefevre , M. J. , Speck , J. S. , Schwartz , R. W. , Dimons , D. and Lockwood , S. J. 1996 . J. Mater. Res. , 11 : 2076 – 84 .
   Web of Science ®Google Scholar
• Tsukada , M. , Fujiki , M. , Cross , J. S. , Matsuura , K. , Ashida , A. and Otani , S. 1998 . Proc. of the 18th Electronics Div. Meeting of the Ceram. Soc. of Jpn. , Electroceramics in Japan II . in press
   Google Scholar
• Cross , J. S. , Fujiki , M. and Tsukada , M. J. Mater. Res. , submitted
   Google Scholar
• Brooks , K. G. , Reaney , I. M. , Klissurska , R. , Huang , Y. , Bursill , L. and Setter , N. 1994 . J. Mater. Res. , 10 : 2540 – 53 .
   Google Scholar
• Stolichnov , I. and Tagantsev , A. 1998 . J. Appl. Phys. , 84 : 3216
   Web of Science ®Google Scholar