References
- McManamon , P. F. , Dorschner , T. A. , Corkum , D. L. , Friedman , L. J. , Hobbs , D. S. , Holz , M. , Liberman , S. , Resler , D. P. , Sharp , R. C. and Watson , E. A. 1996 . Proc. IEEE , 84 : 268
- Johnson , K. M. , McKnight , D. J. and Underwood , I. 1993 . IEEE J. Ouant. Electron , 29 : 699
- Chen , J. , Bos , P. J. , Vithana , H. and Johnson , D. L. 1995 . Appl. Phys. Lett. , 67 : 2588
- Resler , D. P. , Hobbs , D. S. , Sharp , R. C. , Friedman , L. J. and Dorschner , T. A. 1996 . Opt. Lett. , 21 : 689
- He , Zh. , Nose , T. and Sato , S. 1998 . Opt. Eng. , 37 : 2885
- Stockley , J. E. , Subacius , D. and Serati , S. A. 1999 . Proc. SPIE , 3635 : 127
- Subacius , D. , Bos , Ph. and Lavrentovich , O. 1997 . Appl. Phys. Lett. , 71 : 1350
- Subacius , D. , Shiyanovskii , S. V. , Bos , Ph. and Lavrentovich , O. D. 1997 . Appl. Phys. Lett. , 71 : 3323
- Shiyanovskii , S. V. , Subacius , D. , Voloschenko , D. , Bos , Ph. and Lavrentovich , O. D. 1998 . Proc. SPIE , 3475 : 56
- Lavrentovich , O. D. , Shiyanovskii , S. V. and Voloschenko , D. 1999 . Proc. SPIE , 3787 : 149
- Nastyshyn , Yu. A. , Polak , R. D. , Shiyanovskii , S. V. and Lavrentovich , O. D. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 75 : 202
- Lequeux , F. 1988 . J. Phys. France , 49 : 967
- Baudary , J. , Pirkl , S. and Oswald , P. 1998 . Phys. Rev. E , 53 : 3038