References
- Ishihara , S. , Wakemoto , H. , Nakazima , K. and Matsuo , Y. 1989 . Liq. Cryst. , 4 : 669
- Barmentlo , M. , Hollering , R. W. and van Aerle , N. A. J. M. 1992 . Phys. Rev. , A46 : R4490
- Scheffer , T. J. and Nehring , J. 1984 . Appl. Phys. Lett. , 45 : 1021
- Sugiyama , T. , Kuniyasu , S. , Seo , D. , Fukauro , H. and Kobayashi , S. 1990 . Jpn. J. Appl. Phys. , 29 : 2045
- Filas , R. W. and Patel , J. S. 1987 . Appl. Phys. Lett. , 50 : 1426
- Fukuro , H. and Kobayshi , S. 1988 . Mol. Cryst. Liq. Cryst. , 163 : 157
- Geary , J. M. , Goodby , J. W. , Kmetz , A. R. and Patel , J. S. 1987 . J. Appl. Phys. , 62 : 4100
- Nishikawa , M. , Miyamoto , T. , Kawamura , S. , Tsuda , Y. and Bessho , N. 1992 . Japan Display , 92 : 819
- Uchida , T. , Hirano , M. and Sakai , H. 1989 . Liq. Cryst. , 5 : 1127
- Feller , M. B. , Chen , W. and Shen , Y. R. 1991 . Phys. Rev. , A43 : 6778
- Sarid , D. 1991 . Atomic Force Microscopy , New York : Oxford University Press .
- Lee , E. S. , Sato , Y. and Uchida , T. 1992 . Jpn. Display' , 93 : 595
- Shen , Y. R. 1989 . Ann. Rev. Mater. Sci. , 16 : 69
- Ouchi , Y. , Feller , M. B. , Moses , T. and Shen , Y. R. 1992 . Phys. Rev. Lett. , 68 : 3040
- Barmentlo , M. , van Aerle , N. A. J. M. , Hollering , R. W. J. and Damen , J. P. M. 1992 . J. Appl. Phys. , 71 : 4799
- Lee , E. S. , Vetter , P. , Miyashita , T. and Uchida , T. 1993 . Jpn. J. Appl. Phys. , 32 : L1339
- Sugiyama , T. , Kuniyasu , S. , Seo , D. , Fukuro , H. and Kobayashi , S. 1990 . Jpn. J. Appl. Phys. , 29 : 2045
- Huang , J. Y. , Superfine , R. and Shen , Y. R. 1990 . Phys. Rev. , A42 : R3660
- Frisbie , C. D. , Rozsnyai , L. F. , Noy , A. , Wrighton , M. S. and Lieber , C. M. 1994 . Science , 265 : 2071