5. References
- E. Scheil, Z. Metallk., 34 (1942), 70
- K. Ogi, K. Wakasugi, T. Usami and Y. Ono, Proc. Conf. ‘Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS VIII’, (1991) 741–744.
- Y. Ono, N. Murai and K. Ogi, ISIJ Int., 32 (1992), 1150–1156.
- A. Kagawa, T. Okamoto, J. JFS (imono), 57 (1985), 113–119.