References
- Bacsa , R. , Ravindranathan , P. and Dougherty , J. P. 1992 . J. Mater. Res. , 7 : 423
- Bondurant , D. and Gnadinger , F. 1989 . IEEE Spectrum , 30 : 88
- Cho , C. R. , Jang , M. S. , Jeong , S. Y. , Lee , S. J. and Kim , S. C. 1995 . Mater. Lett. , 23 : 203
- Kajiyoshi , K. , Ishizawa , N. and Yoshimura , M. 1991 . Jap. J. appl. Phys. , 30 : L120
- Nogami , G. , Maruyama , H. and Hongo , K. 1993 . J. electrochem. Soc. , 140 : 2370
- Okuyama , M. and Hamakawa , Y. 1985 . Ferroelectrics , 63 : 243
- Pilleux , M. E. and Fuenzalida , V. M. 1993 . J. appl. Phys. , 74 : 4664
- Rao , C. N. R. 1993 . Mater. Sci. Engng. B , 18 : 1
- Scott , J. F. and DeAraoujo , C. A. 1989 . Science , 246 : 1400
- Stein , A. , Keller , S. W. and Mallouk , T. E. 1993 . Science , 259 : 1558
- Venigalla , S. , Bendale , P. and Adair , J. H. 1995 . J. electrochem. Soc. , 142 : 2101
- Xu , W-P. , Zheng , L.-R. , Xin , H.-P. , Lin , C.-L. and Okuyama , M. 1996 . J. electrochem. Soc. , 143 : 1133
- Yoshimura , M. , Yoo , S.-E. , Hayashi , M. and Ishizawa , N. 1989 . Jap. J. appl. Phys. , 28 : 2007