References
- Boeuf, J. P. (2003). J. Phys. D: Appl. Phys., 36, R53.
- Han, S. K., Moon, G. W., & Youn, M. J. (2005). IEEE Trans. Power Electronics, 20(1), 209.
- Kim, H. T., Sohn, S. H. (2012). J. Korean. Phys. Soc., 61(8), 1246.
- Kim, H. T., Park, S., Park, C., Kim, C., & Kim, M. J. (2014). Mol. Cryst. Liq. Cryst., 585, 1.
- Kang, J., Kim, O. D., Jeon, W. G., & Song, J. W. (2000). J. Korean Phys. Soc., 37(6), 854.
- Jang, C., Choi, K. C. (2010). IEEE Trans. Plasma Sci., 38(2), 106.
- Tae, H. S., Han, J. W., Jang, S. H., Kim, B. N., Shin, B. J., Cho, B. G., & Chien, S. I. (2004). IEEE Trans. Plasma Sci., 32(6), 2189.
- Choi, K. C., Shin, N. H., Lee, K. S., & Shin, B. J. (2006). IEEE Trans. Plasma Sci., 34(2), 385.
- Webber, L. F. (2003). Proc. Int. Display Res. Conf., 119.
- Kim, H., Kim, J. Y., Tae, H. S., Seo, J. H., & Lee, S. H. (2004). Dig. Int. Symp. SID, 510.