References
- C. W. Tang, & S. A. VanSlyke, (1987). Appl. Phys. Lett., 51, 913.
- J. Liu, M. Jiang, X. Zhou, C. Zhan, J. Bai, M. Xiong, F. Li, & Y. Liu, (2017). Syn. Met., 234, 111.
- J.-H. Lee, B.-Y. Lin, Y.-C. Shih, K.-F. Lin, L. Wang, T.-L. Chiu, & C.-F. Lin, (2017). Org. Electron., 48, 330.
- Q. Dong, F. Tai, H. Lian, Z. Chen, M. Hu, J. Huang, & W.-Y. Wong, (2017). Dyes and Pigments, 143, 470.
- D. H. Dunlap, P. E. Parris, & V. M. Kenkre, (1996). Phys. Rev. Lett., 77, 542.
- R. Ye, M. Baba, K. Suzuki, Y. Ohishi, & K. Mori, (2004). Thin Solid Films, 464, 437.
- D. Li, E. J. Borkent, R. Nortrup. H. Moon, H. Katz, & Z. Bao, (2005). Appl. Phys. Lett., 86, 042105.
- M. A. McCarthy, B. Liu, E. P. Donoghue, I. Kravchenko, D. Y. Kim, F. So, & A. G. Rinzler, (2011). Science, 332, 570.
- S. Kim, H. J. Kwon, S. Lee, H. Shim, Y. Chun, W. Choi, J. Kwack, D. Han, M. S. Song, S. Kim, S. Mohammadi, I. S. Kee, & S. Y. Lee, (2011). Adv. Mater., 23, 3511.
- Y. W. Park, H. J. Choi, J. H. Choi, T. H. Park, J. W. Jeong, E. H. Song, & B. K. Ju, (2012). IEEE. Electr. Device. L., 33, 1156.
- G. H. Kim, J. Oh, Y. S. Yang, L. M. Do, & K. S. Suh, (2004). Polymer, 45, 1879.
- J. Jin, J. J. Lee, B. S. Bae, S. J. Park, S. Yoo, & K. H. Jung, (2012). Org. Electron., 13, 53.
- H. Kim, J. M. Kim, J. H. Lee, & J. G. Jang, (2014). Mol. Cryst. Liq. Cryst., 601, 190.
- N. Kim, W. J. Potscavage, Jr., B. Domercq, B. Kippelen, & S. Graham, (2009). Appl. Phys. Lett., 94, 163308.
- S. Nam, D. S. Chung, J. Jang, S. H. Kim, C. Yang, S. K. Kwon, & C. E. Park, (2010). J. Electrochem. Soc., 157, H90.
- S. H. Han, J. H. Kim, Y. R. Son. K. J. Lee, W. S. Kim, G. S. Cho, J. Jang, S. H. Lee & D. J. Choo, (2007). J. Electrochem. Soc., 10, J68.
- S. H. Han, J. H. Kim, & J. Jang, (2006). Appl. Phys. Lett., 88, 073519.
- G. H. Kim, J. Oh, Y. S. Yang, L. M. Do, & K. S. Suh, (2004). Thin Solid Films, 467, 1.
- M. D. Clark, M. L. Jespersen, R. J. Patel, & B. J. Leever, (2014). Org, Electron., 15, 1.
- Y. Liao, F. Yu, L. Long, B. Wei, L. Lu, & J. Zhang, (2011). Thin Solid Films, 519, 2344.
- S. Y. Kim, & J. L. Lee, (2004). J. Appl. Phys., 95, 2560.
- ASTM D 3363, Standard Test Method for Film Hardness by Pencil Test, ASTM International.
- Y. Kim, A. Sung, Y. Seo, S. Hwang, & H. Kim, (2016). Adv. Appl. Ceram., 115, 443
- G. L. Graff, R. E. Williford, & P. E. Burrows, (2004). J. Appl. Phys., 96, 1840.
- L. Tellez, J. Rubio, F. Rubio, E. Morales & J. L. Oteo, (2003). J. Mater. Sci., 38, 1773.