References
- Anonymous. Research Disclosure, September 1994, pp. 510–511.
- Hailstone, R. K., Zhao, T., DiFrancesco, A. G. and Tyne, M. J. Imag. Sci. Technol., 2001, 45, 76.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 125.
- DiFrancesco, A. G., Tyne, M., Pryor, C. and Hailstone, R. K. J. Imag. Sci. Technol., 1996, 40, 576.
- Charlier, E., Van Doorselaer, M. K., Gijbels, R., De Keyzer, R. and Geuens, I. J. Imag. Sci. Technol., 2000, 44, 235.
- Kellogg, L. M. International Symposium on Silver Halide Technology, Victoria, BC, 1997, p. 150. IS&T — The Society for Imaging Science and Technology, Springfield, VA, USA.
- Hailstone, R. K. Photogr. Sci. Eng., 1983, 27, 152.
- Zhang, D. and Hailstone, R. K. J. Imag. Sci. Technol. 1993, 37, 61.
- Hailstone, R. K. J. Photogr. Sci. 1984, 32, 25.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 21.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer R., Imag. Sci. J., 2003, 51, 33.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 141.
- Hamilton, J. F. Photogr Sci. Eng. 1982, 26, 263.
- Hailstone, R. K., Liebert, N. B. and Levy, M. J. Imag. Sci., 1990, 45, 169.
- Hamilton, J. F., Harbison, J. M. and Jeanmaire, D. L. J. Imag. Sci. 1988, 32, 17.
- Morimura, K. and Mifune, H. J. Soc. Photogr. Sci. Technol. Jpn 1998, 61, 175.
- Eachus, R. S., Marchetti, A. P., and Muenter, A. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 117.
- Keevert, J. E. and Gokhale, V. J. Imag. Sci. 1987, 31, 243.
- Takiguchi, H. J. Imag. Sci. 1988, 32, 20.
- Cash, D. J. J. Photogr. Sci. 1981, 29, 133.