References
- Kofron, J. T., Booms, R. E., Jones, C. G., Haefner, J. A., Wilgus, H. S. and Evans, F. J. US Patent 4,439,520, 27 March, 1984.
- Ohzeki, K., Urabe, S. and Tani, T. J. Imag. Sci. Technol., 1990, 34, 136.
- Zou, C., Sahyun, M. R. V., Mueller, M. E., Levy, B. and Zhang, T. J. Imag. Sci. Technol., 1995, 39, 106.
- Hailstone, R. K. and De Keyzer, R. Imag. Sci.iJ., 2004, 52, 164.
- Daubendiek, R. L., Black, D. L., Deaton, J. C., Gersey, T. R., Lighthouse, J. G., Olm, M. T., Wen, X. and Wilson, R. D. US Patent 5,503,971, 2 April, 1996.
- Sutherns, E. A. J. Photogr. Sci., 1960, 8, 118.
- Hailstone, R. K. Photogr. Sci. Eng., 1983, 27, 152.
- Hailstone, R. K. J. Photogr. Sci., 1984, 32, 25.
- Farnell, G. C. J. Photogr. Sci., 1980, 28, 145.
- Hailstone, R. K. J. Soc. Photogr. Sci. Technol. Japan, 1994, 57, 215.
- Hailstone, R. K. and Hamilton, J. F. J. Imag. Sci., 1985, 29, 125.
- Hailstone, R. K., Liebert, N. B., Levy, M., McCleary, R. T., Girolmo, S. R., Jeanmaire, D. L. and Boda, C. R. J. Imag. Sci, 1988, 32, 113.
- Hailstone, R. K. and Zhang, D. J. Imag. Sci. Technol., 1993, 37, 61.
- Hailstone, R. K., Zhao, T., DiFrancesco, A. G. and Tyne, M. J. Imag. Sci. Technol., 2001, 45, 76.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J, 2003, 51, 125.
- Redfield, D. and Bube, R. H. Photoinduced Defects in Semiconductors, 1996, p. 22 (Cambridge, New York).
- Kanzaki, H. and Tadakuma, Y. J. Phys. Chem. Solids, 1994, 55, 631.
- Kanzaki, H. and Tadakuma, Y. J. Phys. Chem. Solids, 1997, 58, 221.
- Tani, T. J. Imag. Sci. Technol., 1995, 39, 386.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J, 2003, 51, 141.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J, 2003, 51, 21.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J, 2003, 51, 33.
- Tan, J., Hailstone, R. K. and De Keyzer, R. Imag. Sci.iJ., 2003, 51, 255.
- Mifune, H., Mizuno, M., Toyama, Y., Shiozawa, T. and Okuda, J. J. Imag. Sci. Technol., 2002, 46, 262.
- Charlier, E., Van Doorselaer, M., Gijbels, De Keyzer, R. and Guens, I. J. Imag. Sci. Technol., 2000, 44, 235.