REFERENCES
- Van Doorselaer, M. K. and Charlier, E. ICPS 98, Antwerp, 1998, p. 267.
- Tani, T. and Yoshida, Y. J. Imag. Sci. Technol., 2000, 44, 242.
- Zhang, D. and Hailstone, R. K. J. Imag. Sci. Technol., 1993, 37, 61.
- Kellogg, L. and Hodes, J. SPSE 40th Annual Conf. and Symp. on Hybrid Imaging System, Rochester, 1987, p. 179.
- Faelens, P. A., Berendsen, R., Tavernier, B. H. and Dupain-Klerkx, L. Phot. Korr., 1966, 102, 75.
- Hailstone, R. K. J. Photogr. Sci., 1984, 32, 25.
- Spencer, H. E. J. Imag. Sci., 1988, 32, 28.
- Faelens, P. and Borginon, H. J. Photgr. Sci., 1976, 24, 148.
- Kellogg, L. M. Preprints 28th Annual Conf. and Seminar on Quality Control, 11–16 May 1975, p. 212.
- Harbison, J. M. and Hamilton, J. F. Photogr. Sci. Eng., 1975, 19, 322.
- Farnell, G. C. and Solman, L. R. J. Photogr. Sci., 1980, 28, 185.
- Tan, J., Hailstone, R. K. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 255.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 21.
- Hailstone, R. K., Zhao, T., DiFrancesco, A. G. and Tyne, M. J. Imag. Sci. Technol., 2001, 45, 76.
- Tan, J., Dai, J., DiFrancesco, A. G. and Hailstone, R. K. Imag. Sci. J., 2001, 49, 179.
- Hailstone, R. K., French, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 125.
- Hailstone, R. K., French, J., Tan, J. and De Keyzer, R. Imag. Sci. J., 2003, 51, 141.
- Hailstone, R. K. Imag. Sci. J., 2001, 49, 189.