REFERENCES
- H. K. HARDY: J. Inst. Met., 1951-52, 80, 483.
- H. K. HARDY: J. Inst. Met., 1953-54, 82, 236.
- J. M. SILCOCK, T. J. HEALY, and H. K. HARDY: J. Inst. Met., 1955-56, 84, 23.
- S. K. DAS, G. THOMAS, and D. ROWCLIFFE: in PTOC. 7th Int. Cong. on ‘Electron microscopy’, Grenoble, Aug.—Sept. 1970, Société Frangaise de Microscopic Electronique, 533.
- R. SANKARAN and C. LAIRD: Mater. Science Eng., 1974, 14, 271.
- T. SATO, T. TAKAHASHI, N. TANAKA, and K. MIHAMA: Jpn J. Appl. Phys., 1982, 21, 209.
- J. KAROV and w. V. YOUDELIS: Mater. Sci. Technol., 1986, 2, 1183–1188.
- M. AVRAMI: J. Chem. Phys. 1939, 71, 1103.
- C. LAIRD and H. I. AARONSON: Acta Metall. , 1966, 14, 171.
- S. HARPER: Phys. Rev., 1951, 83, 709.
- J. M. SILCOCK, T. J. HEALY, and H. K. HARDY: J. Inst. Met. 1953-54, 82, 239.