References
- F. C. FRANK and J H. H der MERWE: Proc. R. Soc. (London) A, 1949, 198, 216.
- J. W. MATTHEWS and A. D. BLAKEsLEE: J. Cryst. Growth, 1974, 27, 118.
- B. W. DODSON and J. Y. TSAO: Appl. Phys. Lett., 1987, 51, 1325.
- E. A. FITZGERALD: Mater. Sci. Rep., 1991, 7, 87.
- J. R. DOWNES, D. J. DUNSTAN, and D. A. FAUX: SeMiCOnd. Sci. Technol., 1994, 9, 1265.
- A. IL COTTRELL: ‘Dislocations and plastic flow in crystals’; 1953, Oxford, Clarendon Press.
- R. BEANLAND: J. Appl. Phys., 1992, 72, 4031.
- L. B. FREUND: J. Appl. Phys., 1990, 68, 2073.
- K. sumwo: in ‘Handbook of semiconductors’, (ed. T. S. Moss and S. Mahajan, Vol. 3a, chap. 2; 1994, Amsterdam, North-Holland.
- I. V. BRADLEY, W. P. GILLIN, K. P. HOMEWOOD, and R. P. WEBB: Appl. Phys., 1993, 73, 1686.
- B W. W and J. Y. TSAO: Appl. Phys. Lett., 1988, 52, 852.
- G. J. WHALEY and P. I. COHEN: Appl. Phys. Lett., 1990, 57, 144.
- A. V. DRIGO, A. AYDINLI, A. CARNERA, F. GENOVA, C. RIGO, C. FERRARI, P. FRANZOSI, and G. SALVIATE J. Appl. Phys., 1989, 66, 1975.
- M. LOURENcO, K. P. HOMEWOOD, and L. CONSIDINE: Mater. Sci. Eng., 1994, B28, 507.
- R. BEANLAND, D. J. DUNSTAN, and P. J. GOODHEW: J. Scanning Microsc., 1994, 8, 859.
- D. J. DUNSTAN, P. KIDD, L. K. HOWARD, and R. H. DIXON: Appl. Phys. Lett., 1991, 59, 3390.
- L. K. HOWARD, P. KIDD, and R. H. DIXON: J. Cryst. Growth, 1992, 125, 281.
- D. J. DUNSTAN, P. KIDD, P. F. FEWSTER, N. L. ANDREW, R. GREY, J. P. R. DAVID, L. GONZALEZ, Y. GONZALEZ, A. SACEDON, and F. GONZALEZ-SANZ: Appl. Phys. Lett., 1994, 65, 839–841.
- D. J. DUNSTAN, R. H. DIXON, P. KIDD, L. K. HOWARD, V. A. WILKINSON, J. D. LAMBIUN, C. JEYNES, M. P. HALSALL, D. LANCEFIELD, M. T. EMENY, P. J. GOODHEW, K. P. HOMEWOOD, B. J. SEALY, and A. R. ADAMS: J. Cryst. Growth, 1993, 126, 589.
- V. HIGGS, P. KIGHTLEY, P. D. AUGUSTUS, and P. J. GOODHEW: Appl. Phys. Lett., 1993, 59, 829.
- B. ELMAN, C. S. KOTELES, P. MELMAN, C. JAGANNATH, J. LEE, and D. DUGGER: Appl. Phys. Lett., 1989, 55, 1659.
- P. MAIGNE, D. J. LOCKWOOD, and J. B. WEBB: Appl. Phys. Lett., 1994, 65, 1543.
- J. L. LAZZARI, C. FOUILLANT, P. GRUNBERG, J. L. LECLERCQ, A. JouLLIt, and C. SCHILLER: J. Cryst. Growth, 1993, 130, 96.
- C. GIANNINI, L. TAPFER, T. PELUSO, N. LOVERGINE, and L. VASANELLI: in Proc. 2nd European Symp. on ‘X-ray topography and high resolution diffraction', Berlin, 1994.
- D. J. DUNSTAN: Philos. Mag. A, in press.
- J. LERSOFF: Appl. Phys. Lett., 1993, 62, 693.
- E. A. FITZGERALD, Y. H. XIE, M. L. GREEN, D. BRASEN, A. R. KORTAN, J. MICHEL, Y. J. Ant, and B. E. WEIR: Appl. Phys. Lett., 1991, 59, 811.
- C. G. TUPPEN, C. J. GIBBINGS, and M. HOCICLY: in MRS Symp. Proc. Vol. 220, 187; 1991, Pittsburgh, PA, Materials Research Society.