References
- Knauss , L. A. , Pond , J. M. , Horwitz , S. J. and Chrisey , D. B. 1996 . Appl. Phys. Lett. , 69 : 25
- Cole , M. W. , Joshi , P. C. , Ervin , M. H. , Wood , M. C. and Pfeffer , R. L. 2000 . Thin Solid Films , 34 : 374
- Kawahara , T. , Yamamuka , M. , Yuuki , A. and Ono , K. 1996 . Jpn. J. Appl. Phys , 35 : 4880
- Chung , H. J. and Woo , S. I. 2001 . J. Vac. Sci. Technol. B , 19 : 275
- Guo , H. Y. , Xu , J. B. , Ian. Wilson , H , Xie , Z. and Luo , E. Z. 2002 . Physics Letters A , 294 : 217
- Cho , C.-R. , Koh , J. H. , Grishin , A. M. , Abadei , S. and Gevorgian , S. 2000 . Appl. Phys. Lett. , 76 : 1761
- Wang , X. , Helmersson , U. , Olafsson , S. , Rudner , S. , Wernlund , L.-D. and Gevorgian , S. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 73 : 927
- Brennan , C. J. Proc. 3th. Int. Symp. Integrated Ferroelectrics, Colorado Springs . pp. 354