References
- Hay , R. W. , Clifford , T. and Lightfoot , P. 1998 . Polyhedron , 17 : 4347
- Hagen , K. S. and Armstrong , W. 1989 . J. Am. Chem. Soc. , 111 : 774
- Hong , C. S. , Kim , J. , Hur , N. H. and Do , Y. 1996 . Inorg. Chem. , 35 : 5110
- Paoletti , P. , Ciampolini , M. and Sacconi , L. 1963 . J. Chem. Soc. , 3589
- Chin , J. , Banaszczyk , M. , Jubian , V. and Zhou , X. 1989 . J. Am. Chem. Soc. , 111 : 186
- 1994 . Siemens, XSCANS (Version 2.1) , Madison, , USA : Siemens Analytical Instruments Inc. .
- 1995 . Siemens, SHELXTL (Version 5.0) , USA : Siemens Industrial Automation Inc., Analytical Instrumentation .
- Serna , Z. , Barandika , M. G. , Cortes , R. , Urtiaga , M. K. and Arriortua , M. I. 1999 . Polyhedron , 18 : 249
- Colton , R. , Agostino , A. O. and Traeger , J. C. 1995 . Mass Spectrom. Rev. , 14 : 79
- Ralph , S. F. , Sheil , M. M. , Hick , L. A. , Geue , R. J. and Sargeson , A. M. 1996 . J. Chem. Soc., Dalton Trans. , 4417