References
- Baluc , N. and Schäblin , R . 1996 . Phil. Mag. A , 74 : 113
- Cockayne , D. J. H. 1972 . Z. Naturf., (a) , 27 : 452
- Cockayne , D. J. H. , Ray , I. L. F. and Whelan , M. J. 1969 . Phil. Mag. , 20 : 1265
- Eshelby , J. D. , Read , W. T. and Shockley , W . 1970 . Phil. Mag. , 21 : 931
- Head , A. K. 1967 . Aust. J. Phys. , 20 : 557
- Head , A. K. , Humble , P. , Clareborough , L. M. , Morton , A. J. and Forwood , C. T. 1973 . Computed Electron Micrographs and Defect Identification , Amsterdam : North-Holland .
- Hemker , K. J. 1997 . Phil. Mag. A , 76 : 241
- Hemker , K. J. and Mills , M. J. 1993 . Phil. Mag. A. , 68 : 305
- Hirsch , P. B. , Howie , A. , Nicholson , R. B. , Pashley , D. W. and Whelan , M. J. 1960 . Electron Microscopy of Thin Crystals , London : Butterworth .
- Lazarus , P . 1948 . Phys. Rev. , 74 : 1726 1949, ibid. 76 547.
- Meng , X. , Schäublin , R. and Stobbs , W. M. 1997 . Phil. Mag. A , 75 : 179
- Saada , G. and Veyssière , P. 1992 . Phys. Stat. sol. (b) , 172 : 309
- Saka , H . 1984 . Phil. Mag. A , 49 : 327
- Schäublin , R. and Stadelman , P. 1993 . Mater. Sci. Engng , A164 : 373
- Stroh , A. N. 1958 . Phil. Mag , 3 : 625
- Williams , D. B. and Carter , C. B. 1996 . Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science , 428 New York : Plenum .