References
- Forkner , J. F. and Kuntz , D. W. 1983 . Proc. SPIE , 390 : 156
- Xiao-Qun , Z. , Ann , B. N. K. and Seong , K. S. 2000 . Appl. Optics , 39 : 1148
- Sinzinger , S. , Brenner , K.-H. , Moisel , J. , Spick , T. and Testorf , M. 1995 . Appl. Optics , 34 : 6626
- Herzig , H. P. 1996 . Optics Commun. , 58 : 144
- Gilbreath , C. , Clement , A. E. and Wagner , J. W. 1987 . Proc. SPIE , 747 : 43
- Miler , M. , Koudela , I. and Aubrecht , I. 1999 . Appl. Optics , 38 : 3019
- Aubrecht , I. and Miler , M. 1991 . Czech. J. Phys. , 41 : 1231
- Fromager , M. and Ameur , K. A. 2001 . Optics Commun. , 190 : 45
- Zhou , Ch. C. , Fu , Z. and Chen , R. T. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 72 : 3249
- Amitai , Y. and Goodman , J. W. 1990 . Appl. Optics , 29 : 2970
- Chang , J. T. , Su , D. C. , Huang , Z. X. and Huang , Y. T. 1997 . Appl. Phys. Lett. , 70 : 919
- Pala , J. , Miler , M. and Aubrecht , I. 2002 . J. Mod. Optics , 49 : 1919
- Aharoni , A. , Goodman , J. W. and Amitai , Y. 1993 . Optics Lett. , 18 : 179
- Sokolova , E. 2004 . Appl. Optics , 43 : 20