References
- Scott , J. , Melnick , B. , McMillan , L. and Araujo , C. 1993 . Integr. Ferroel. , 3 : 225
- Sze , S. 1969 . Physics of Semiconductor Devices , New York : Wiley .
- Yoo , I. , Kim , C. and Desu , S. 1995 . Integrated Ferroelectrics , 11 : 269
- Moazzami , R. , Hu , C. and Shepherd , W. 1992 . IEEE Transactions on Electron Devices , 39 : 2044
- Chen , J.-L. , Chen , H.-M. and Lee , J. Y. 1996 . Appl. Phys. Lett. , 69 : 4011
- Baiatu , T. , Waser , R. and Hardtl , K.-H. 1990 . J. Am. Ceram. Soc. , 73 : 1663
- Waser , R. 1995 . “ NATO ASI Series ” . In Science and Technology of Electroceramic Thin Films , Dordrecht : Kluwer Acad. Publ. .
- Degraeve , R. , Groeseneken , G. , Bellens , R. , Ogier , J. , Depas , M. , Roussel , P. and Maes , H. 1998 . IEEE Transactions on Electron Devices , 45 : 904
- Moazzami , R. , Hu , C. and Shepherd , W. 1990 1990 . “ 28th Annual Proceedings. ” . In Reliability Physics , p. 231 New York , , NY, USA : IEEE .
- Cross , J. S. , Fujiki , M. , Tsukada , M. , Matsuura , K. and Otani , S. 1999 . Jpn. J. Apl. Phys. Lett , 38 : L448
- Degraeve , R. , Ogier , J. , Bellens , R. , Roussel , P. G. G. and Maes , H. 1998 . IEEE Transactions on Electron Devices , 45 : 472
- Wouters , D. J. , Willems , G. J. and Maes , H. E. 1995 . Microelectronic Engineering , 29 : 249 – 256 .
- Stolichnov , I. and Tagantsev , A. 1998 . J. Appl. Phys. , 84 : 3216
- Stolichnov , I. , Tagantsev , A. and Setter , N. 1998 . Ferroelectrics , 225 : 147
- Cross , J. S. , Fujiki , M. , Tsukada , M. , Kotaka , Y. and Goto , Y. 1999 . J. Mater. Research , 14 : 4366
- Stolichnov , I. , Tagantsev , A. , Setter , N. , Cross , J. and Tsukada , M. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 75 : 1790
- Cross , J. S. , Fujiki , M. Tsukada , M. 1999 . Integr. Ferroel. , 25 : 265
- Colla , E. , Tagantsev , A. , Taylor , D. and Kholkin , A. 1997 . Integrated Ferroelectrics , 18 : 19
- Colla , E. , Hong , S. , Taylor , D. , Tagantsev , A. , No , K. and Setter , N. 1998 . Appl. Phys. Lett. , 72 : 2763