References
- Paz Araujo , C. A. , Cuchiaro , J. D. , McMillan , L. D. , Scott , M. C. and Scott , J. F. 1995 . Nature , 374 : 627 – 629 .
- Hayashi , T. , Hara , T. and Takahashi , H. 1997 . Jpn. J. Appl. Phys. , 36 ( 9B ) : 5900 – 5903 . Par I
- Kim , I. , Wook , J. , Youn , H. , Hoon , C. and Sung , K. 1998 . App. Phys. Lett. , 72 ( 3 ) : 308 – 310 .
- Hu , G. D. , Xu , J. B. and Wilson , I. H. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 75 ( 11 ) : 1610 – 1612 .
- Irie , H. , Miyayama , M. and Kudo , T. 1999 . Jpn. J. Appl. Phys. Part I-Regular papers Short Notes & Review Papers , 38 ( 10 ) : 5958 – 5963 .
- Shimakawa , Y. , Kubo , Y. , Nakagaqa , Y. , Kamiyama , T. , Asano , H. and Izumi , F. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 74 ( 13 ) : 1904 – 1906 .
- Yang , F. , Wang , Y. , Liu , J. , Zhang , Z. and Chen , H. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 74 ( 19 ) : 2794 – 2796 .
- Tejedor , P. , Fernandez , A. B. , Jimenez , R. , Alemany , C. and Mendiola , J. 2000 . Microelectronics Reliability , in press
- Alemany , C. , Jimenez , R. , Revilla , J. , Mendiola , J. and Calzada , M. L. 1999 . J. Physics D: Applied Physics. , 32 : L79 – L82 .
- Watanabe , K. , Hartmann , A. J. , Lamb , R. N. and Scott , J. F. 1998 . J. Appl. Phys. , 84 ( 4 ) : 2170