References
- Ono , K. , Horikawa , T. , Shibano , T. , Mikami , N. , Kuroiwa , T. , Kawahara , T. , Matsuno , S. , Uchikawa , F. , Satoh , S. and Abe , H. 1998 . IEDM Tech. Digest , : 803
- Lzuha , M. , Abe , K. , Koike , M. , Takeno , S. and Fukushima , N. 1997 . Appl. Phys. Lett. , 70 : 1405
- Fujii , E. , Uemoto , Y. , Hayashi , S. , Nasu , T. , Shimada , Y. , Matsuda , A. , Kibe , M. , Azuma , M. , Otsuki , T. , Kano , G. , Scott , M. , McMillan , L. D. and Paz de Araujo , C. A. 1992 . IEDM Tech. Digest , : 267
- Horikawa , T. , Mikami , N. , Makita , T. , Tanimura , J. , Kataoka , M. , Sato , K. and Nunoshita , M. 1993 . Jpn. J. Appl. Phys. , 32 : 4126
- Joo , J. H. , Jeon , Y. C. , Seon , J. M. , Oh , K. Y. , Roh , J. S. and Kim , J. J. 1997 . Jpn. J. Appl. Phys. , 36 : 4382