REFERENCES
- Fujimori , Y. , Nakamura , T. and Kamisawa , A. 1999 . Jpn. J. Appl. Phys. , 38 : 2285
- Nakaiso , T. , Sugiyama , H. , Noda , M. and Okuyama , M. 2000 . Jpn. J. Appl. Phys. , 39 : 5517 http://dx.doi.org/10.1143%2FJJAP.39.5517 http://www.csa.com/htbin/linkabst.cgi?issn=0021-4922&vol=39&iss=&firstpage=5517
- Nakaiso , T. , Noda , M. and Okuyama , M. 2001 . Jpn. J. Appl. Phys. , 40 : 2935 http://dx.doi.org/10.1143%2FJJAP.40.2935 http://www.csa.com/htbin/linkabst.cgi?issn=0021-4922&vol=40&iss=&firstpage=2935
- Takahashi , I. , Sakurai , H. , Yamada , A. , Funaiwa , K. , Hirai , K. , Urabe , S. , Goto , T. , Hirayama , M. , Teramoto , A. , Sugawa , S. and Ohmi , T. 2003 . Jpn. J. Appl. Phys. , 42 : 2050 http://www.csa.com/htbin/linkabst.cgi?issn=0021-4922&vol=42&iss=&firstpage=2050
- Sekine , K. , Saito , Y. , Hirayama , M. and Ohmi , T. 2001 . IEEE T-ED , 48 : 1550 http://www.csa.com/htbin/linkabst.cgi?issn=&vol=48&iss=&firstpage=1550
- Takahashi , I. , Sakurai , H. , Yamada , A. , Funaiwa , K. , Hirai , K. , Urabe , S. , Goto , T. , Hirayama , M. , Teramoto , A. , Sugawa , S. and Ohmi , T. 2003 . Applied Surface Science , 216 : 239 http://dx.doi.org/10.1016%2FS0169-4332%2803%2900424-0