REFERENCES
- Scott , JamesF. and Carlos , A . 1989 . Paz de Araujo . Science , 246 : 1400
- Cho , J. H. and Park , K. C. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 75 : 549
- Kang , B. S. , Kim , D. J. , Jo , J. Y. , Noh , T. W. , Yoon , Jong-Gul , Song , T. K. , Lee , Y. K. , Lee , J. K. , Shin , S. and Park , Y. S. 2004 . Appl. Phys. Lett. , 84 : 3127
- Ramesh , R. , Lee , J. , Sands , T. , Keramidas , V. G. and Auciello , O. 1994 . Appl. Phys. Lett. , 64 : 2511
- Ramesh , R. , Dutta , B. , Ravi , T. S. , Lee , J. , Sands , T. and Keramidas , V. G. 1994 . Appl. Phys. Lett. , 64 : 1588
- Yin , J. , Zhu , T. , Liu , Z. G. and Yu , T. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 75 : 3698
- Wang , Fan , Uusimäki , Antti and Leppävuori , Seppo . 1995 . Appl. Phys. Lett. , 67 : 1692
- Wang , Fan and Leppävuori , Seppo . 1997 . J. Appl. Phys. , 82 : 1293
- Dat , R. , Lichtenwalner , D. J. , Auciello , O. and Kingon , A. I. 1994 . Appl. Phys. Lett. , 64 : 2673
- Meng , X. J. , Ma , Z. X. , Sun , J. L. , Bo , L. X. , Ye , H. J. , Guo , S. L. and Chu , J. H. 2000 . Thin Solid Films , 372 : 271
- Wu , Wenbin , Wong , K. H. , Choy , C. L. and Zhang , Y. H. 2000 . Appl. Phys. Lett. , 77 : 3441
- Kim , B. J. , Lee , J. and Yoo , J. B. 1999 . Thin Solid Films , 341 : 13
- Madhukar , Sucharita , Aggarwal , S. , Dhote , A. M. , Ramesh , R. , Krishnan , A. , Keeble , D. and Poindexter , E. 1997 . J. Appl. Phys. , 81 : 3543
- Cillessen , J. F. M. , Wolf , R. M. and De Veirman , A. E. M. 1993 . Appl. Surf. Sci. , 69 : 212
- Cheung , JeffreyT. , Morgan , PeterE. D. , Lowndes , DouglasH. , Zheng , X. Y. and Breen , John . 1993 . Appl. Phys. Lett. , 62 : 2045
- Meng , X. J. , Cheng , J. G. , Li , B. , Guo , S. L. , Ye , H. J. and Chu , J. H. 2000 . J. Cryst. Growth , 208 : 541
- Jonker , G. H. and Van Saten , J. H. 1953 . Physica Vol. 19 , 120 Amsterdam
- Lee , J. , Ramesh , R. , Keramidas , V. G. , Warren , W. L. , Pike , G. E. and Evans , J. T. 1995 . Appl. Phys. Lett. , 66 : 1337
- Stolichnov , I. , Tagantsev , A. , Setter , N. , Cross , J. S. and Tsukada , M. 1999 . Appl. Phys. Lett. , 74 : 3552