References
- Hosono, H., Ohta, H, Orita, M., Ueda, K., & Hirano, M. (2002). Vacuum., 66, 419.
- Szyszka, B., Dewald, W., Gurram, S. K., Pflug, A., Schulz, C., Siemers, M., Sittinger, V., & Ulrich, S. (2012). Current Appl. Phys., 12, S2.
- Walker, B., Pradhan, A. K., & Xiao, B. (2015). Solid State Electron., 111, 58.
- Jeong, J.-A., Shin, H.-S., Choi, K.-H., & Kim, H.-K. (2010). J. Phys. D: Appl. Phys., 43, 465403.
- Nam, E., Kang, Y.-H., Jung, D., & Kim, Y. S. (2010). Thin Solid Films, 518, 6245.
- Jun, M.-C., Park, S.-U., & Koh, J.-H. (2012). Nano. Res. Lett., 7, 639.
- Kuwabara, T., Nakashima, T., Yamaguchi, T, & Takahashi, K. Organic Electron., 13, 1136.
- Khan, Z. R., Khan, M. S., Zulfequar, M. , & Khan, M. S. (2011). Mat. Sci. Appl., 2, 340.