References
- Park, C.-S., & Tae, H.-S. (2010). Appl. Phys. Lett., 96, 043504.
- Park, C.-S., Tae, H.-S., Jung, E.-Y., Seo, J. H., & Shin, B. J. (2010). IEEE Trans. Plasma Science, 38, 2439.
- Park, C.-S., & Tae, H.-S. (2012). Jpn. J. Appl. Phys., 51, 09MF14.
- Park, C.-S., Tae, H.-S., Jung, E.-Y., & Ahn, J.-C. (2010). Thin Solid Films, 518, 6153.
- Shin, B. J., Min, C. S., & Seo, J. H. (2011). IEEE Trans. Plasma Sci., 39, 695.
- Cho, B.-G., Tae, H.-S., Ito, K., Song, J. W., Jung, E. Y., Ahn, J. C., & Jung, N.-S. (2006). IEEE Trans. Plasma Sci., 34, 390.
- Choi, N.-W., Min, C.-S., Yoon, S.-H., Shin, B.-J., & Seo, J.-H. (2007). Tech. Dig. International Display Workshops, p. 831.
- Lim, J. K., Park, C.-S., Choi, B.-T., Tae, H.-S., & Chien, S.-I. (2006). SID Int. Symp. Dig. Tech. Pap., 37, 597.
- Lee, J.-Y., Kim, J.-S., Jung, N.-S., & Cho, B.-H. (2004). IEEE Trans. Industrial Electron., 51, 615.
- Cho, T.-S., & Jung, J.-W. (2009). IEEE Trans. Plasma Sci., 37, 135.
- Jang, S.-K., Park, C.-S., Tae, H.-S., Shin, B. J., Seo, J. H., & Jung, E.-Y. (2010). J. Soc. Inf. Disp., 18, 614.