References
- Pauluth, D., & Tarumi, K. (2005). SID Digest, 693.
- Hong, H., Shin, H., & Chung, I. (2007). J. Disp. Technol., 3, 361.
- Putten, E. G., Vellekoop, I. M., & Mosk, A. P. (2008). Appl. Optics, 47, 2076.
- Toko, Y., Sugiyama, T., Katoh, K., Iimura, Y., & Kobayashi, S. (1993). J. Appl. Phys., 74, 2071.
- Kim, S. G., Kim, S. M., Kim, Y. S., Lee, H. K, Lee, S. H., Lee, G. D., Lyu, J. J., & Kim, K. H. (2007). Appl. Phys. Lett., 90, 261910.
- Lu, R., Wu, S. T., & Lee, S. H. (2008). Appl. Phys. Lett., 92, 051114.
- Liao, Y. J., Hsu, C. S., & Wu, S. T. (2000). Jpn. J. Appl. Phys., 39, L 90.
- Walba, D. M., Liberko, C. A., Korblova, E., Farrow, M., Furtak, T. E., Chow, B. C., Schwartz, D. K., Freeman, A. S., Douglas, K., Williams, S. D., Klittnick, A. F., & Clark, N. A. (2004). Liq. Cryst., 31, 481.
- Seeboth, A., & Hettrich, W. (1997). J. Adhes. Sci. Technol., 11, 495.
- Malone, S. M., & Schwartz, D. K. (2008). Langmuir, 24, 9790.
- Kung, G., Jiang, L. Y., Wang, Y., & Chung, T. S. (2010). J. Memb. Sci., 360, 303.