References
- J. Y. Kim, Y. T. Jeong, and B. G. Cho, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 651 (1), 196 (2017). doi:https://doi.org/10.1080/15421406.2017.1338085
- H. Murakami, and T. Kurita, Proc. SID 02, 934 (2002).
- M. Uchidoi, SID Symp. Digest. 35 (1), 202 (2004). doi:https://doi.org/10.1889/1.1821386
- C. S. Park et al., J. SID 18 (2010).
- S. J. Kang et al., IEEE Trans. Consum. Electron. 51, 204 (2005). doi:https://doi.org/10.1109/TCE.2005.1405721
- K. D. Cho, H. S. Tae, and S. I. Chien, IEEE Trans. Consum. Electron. 48, 377 (2002).
- K. H. Park, H. S. Tae, and S. I. Chien, IEEE Trans. Consum. Electron. 51, 198 (2005). doi:https://doi.org/10.1109/TCE.2005.1405720
- B. G. Cho, J. KIIT. 15 (2), 47 (2017). doi:https://doi.org/10.14801/jkiit.2017.15.2.47
- S. Kanagu et al., Proc. SID 92, 713 (1992).
- J. Y. Kim et al., Mol. Cryst. Liq. Cryst. 677 (1), 143 (2018). doi:https://doi.org/10.1080/15421406.2019.1597521
- J. H. Seo, and S. H. Lee, IEEE Trans. Consum. Electron. 50, 407 (2004).
- S. K. Jang, C. S. Park, and H. S. Tae, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 551 (1), 86 (2011). doi:https://doi.org/10.1080/15421406.2011.600159