References
- Bae , H. S. , Kim , T. J. , Jeong , D. C. and Whang , K.-W. 2006 . IEEE TPS , 34 ( 3 ) : 954
- Bae , H. S. and Kim , J. K. 2012 . J. Inf. Disp. , 13 ( 3 ) : 131 (doi:10.1080/15980316.2012.724032)
- Moon , C.-H. 2011 . J. Inf. Disp. , 12 ( 1 ) : 29 (doi:10.1080/15980316.2011.555513)
- Kim , J. K. , Bae , H. S. , Jung , J.-C. and Whang , K.-W. 2009 . J. Korean Phys. Soc. , 54 ( 4 ) : 1532 (doi:10.3938/jkps.54.1532)
- Cho , B.-G. , Tae , H.-S. , Ito , K. , Jung , N.-S. and Lee , K.-S. 2006 . IEEE Trans. Electron Devices , 53 ( 5 ) : 1112 (doi:10.1109/TED.2006.872696)
- Kim , J. K. and Jung , H. Y. 2010 . J. Inf. Disp. , 11 ( 4 ) : 154 (doi:10.1080/15980316.2010.9665844)